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測試座主要通過雙頭探針將芯片與測試座點(diǎn)對(duì)點(diǎn)連接導(dǎo)通,操作方便,測試準(zhǔn)確率高,成本底部,ic設(shè)計(jì)規(guī)格書規(guī)定的功能和性能指標(biāo)是保證設(shè)備在惡劣環(huán)境條件下完全實(shí)現(xiàn)的主要目的。簡單來說ic測試座(ICscoket)的定義就是IC測試座對(duì)ic檢查生產(chǎn)制造缺陷和元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測試設(shè)備,用于檢查器件的電性能和電氣連接。
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