華榮華的半導(dǎo)體探針產(chǎn)品應(yīng)用場(chǎng)景廣泛，主要包括以下方面：

1.芯片測(cè)試：在晶圓制造過程中，可檢測(cè)芯片的電壓、電流、電阻等參數(shù)，進(jìn)行故障分析與定位，在芯片研發(fā)與設(shè)計(jì)驗(yàn)證時(shí)，能測(cè)試運(yùn)算速度、功耗等性能指標(biāo)，驗(yàn)證設(shè)計(jì)規(guī)則。此外，還用于集成電路封裝前、后的測(cè)試，以及老化測(cè)試和環(huán)境應(yīng)力測(cè)試等。
2. 電路板測(cè)試：ICT測(cè)試探針可針對(duì)電路板上的單個(gè)元件及其連接進(jìn)行檢測(cè)，判斷電路功能是否符合要求，有效識(shí)別開短路問題、元件缺失或錯(cuò)誤以及焊接不良等，PCB測(cè)試探針能準(zhǔn)確地檢測(cè)印刷電路板上的故障點(diǎn)，P50、P75、P100等系列探針均在PCB測(cè)試中有著廣泛的應(yīng)用。

3.電子設(shè)備測(cè)試：高頻測(cè)試探針可用于手機(jī)、無線網(wǎng)卡、路由器等電子設(shè)備的射頻信號(hào)測(cè)試。此外，在手機(jī)制造中，還可用于測(cè)試手機(jī)芯片、屏幕、攝像頭、電池等各個(gè)組件。

- 其他領(lǐng)域：在汽車、電信、太陽能、無人機(jī)、智能家居、智能手表、5G信號(hào)等通信行業(yè)測(cè)試中也被廣泛應(yīng)用，以確保相關(guān)產(chǎn)品的性能和質(zhì)量。